RT Journal Article
T1 Nuevas tecnologías y nuevos riesgos laborales : estrés y tecnoestrés
A1 Alfaro de Prado Sagrera, Ana María
AB Tanto el apego excesivo a las TICS, como el rechazo frontal a las mismas, da lugar a patrones de comportamiento disfuncionales. Aunque ambas posturas son potencialmente perjudiciales, en este artículo vamos a detenernos en la primera, debido a su relación con uno de los factores más perjudiciales para el logro de la calidad de vida en el trabajo: el estrés, y más concretamente en este caso, el tecnoestrés.____________________________Both the excessive attachment to the ICT, as the rejection front to them, leads to dysfunctionalbehavioral patterns. Although both positions are potentially harmful, in this article we will stop atfirst, because of its relationship with one of the most damaging factors for achieving the quality oflife at work: stress, and more specifically in this case, the tecnoestrés.
PB Universidad de Huelva
YR 2008
FD 2008
LK http://hdl.handle.net/10272/3414
UL http://hdl.handle.net/10272/3414
LA spa
DS Repositorio Institucional de la Universidad de Huelva
RD 1 jul 2026