Nuevas tecnologías y nuevos riesgos laborales : estrés y tecnoestrés
| dc.contributor.author | Alfaro de Prado Sagrera, Ana María | |
| dc.date.accessioned | 2010-05-14T12:37:55Z | |
| dc.date.available | 2010-05-14T12:37:55Z | |
| dc.date.issued | 2008 | |
| dc.description.abstract | Tanto el apego excesivo a las TICS, como el rechazo frontal a las mismas, da lugar a patrones de comportamiento disfuncionales. Aunque ambas posturas son potencialmente perjudiciales, en este artículo vamos a detenernos en la primera, debido a su relación con uno de los factores más perjudiciales para el logro de la calidad de vida en el trabajo: el estrés, y más concretamente en este caso, el tecnoestrés.____________________________Both the excessive attachment to the ICT, as the rejection front to them, leads to dysfunctional behavioral patterns. Although both positions are potentially harmful, in this article we will stop at first, because of its relationship with one of the most damaging factors for achieving the quality of life at work: stress, and more specifically in this case, the tecnoestrés. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10272/3414 | |
| dc.language.iso | spa | en_US |
| dc.publisher | Universidad de Huelva | |
| dc.rights | Atribución-NoComercial-SinDerivadas 3.0 España | |
| dc.rights.accessRights | open access | |
| dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/es/ | |
| dc.title | Nuevas tecnologías y nuevos riesgos laborales : estrés y tecnoestrés | en_US |
| dc.type | journal article | en_US |
| dspace.entity.type | Publication |
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